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橢偏儀——SE500

橢偏儀是一種利用偏振態的變化后光束探測樣品反應技術。不像反射儀,橢偏儀參數(PSI和Del)是在非正常的入射角得到。

橢偏儀——SE300

圖片?簡介SE300橢偏儀是一種利用光的偏振態變化來進行薄膜性質表征的儀器,主要用來測量薄膜材料的厚度、NK參數等性質。

橢偏儀——SE200BA-M300

圖片??簡介橢偏儀——SE200BA-M300橢偏儀是一種利用光的偏振態變化來進行薄膜性質表征的儀器,主要用來測量薄膜材料的厚度、NK參數等性質。
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